| メーカー/型番 | リガク社製 ZSX Primus Ⅱ |
|---|---|
| 用途例 | 未知試料の材質判定分析等 |
X線を物質に照射し発生する元素固有のＸ線（蛍光X線）を検出し、元素の定性および定量分析を行う
特長
・ppmレベルの微量元素の分析が可能で、高含有量の成分分析も可能
・前処理が簡単で迅速分析が可能
・金属、セラミックス、樹脂など幅広い素材に対応
・試料に対するダメージが少なく、非破壊で繰り返し分析が可能
・環境関係のスクリーニング分析に適している
機能
・各種材料に含まれる元素の種類と含有量を迅速に測定する
・周期律表でC（カーボン）からU（ウラン）までの分析が可能
用途例
・未知試料の材質判定分析
・材料中の不純物分析
・産業廃棄物のスクリーニング分析
主要スペック
| ・分析可能元素 | C（カーボン）～U（ウラン） |
| ・バルク試料サイズ | Φ35mm以下、10mm以上 |
| ・試料形態 | バルク、粉末、水溶液 |
蛍光Ｘ線サンプル
