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走査型電子顕微鏡(SEM)<ものセン阪神整備機器>



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装置名
走査型電子顕微鏡(SEM)<ものセン阪神整備機器>

装置メーカー/型式
日本電子社製 JSM-6390A

装置の使用用途例
疲労破面の観察/各種材料のミクロ組織観察/非金属介在物などの元素分析


装置の仕様や特長など


1.材料破面、ミクロ組織などの観察や化学組成分析が可能
2.主な仕様

・倍率5~300,000倍
・元素分析B~U
・分解能3.0nm(2次電子分解能)
・試料Φ30mm以下

3.用途例
・疲労破面の観察
・各種材料のミクロ組織観察
・非金属介在物などの元素分析
4.金属破断面の観測写真(×400)
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