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蛍光X線分析装置(XRF)<ものセン阪神整備機器>



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装置名
蛍光X線分析装置(XRF)<ものセン阪神整備機器>

装置メーカー/型式
リガク社製 ZSX Primus Ⅱ

装置の使用用途例
未知試料の材質判定分析等


装置の仕様や特長など


X線を物質に照射し発生する元素固有のX線(蛍光X線)を検出し、元素の定性および定量分析を行う。

■特長
・ppmレベルの微量元素の分析が可能で、高含有量の成分分析も可能。
・前処理が簡単で迅速分析が可能。
・金属、セラミックス、樹脂など幅広い素材に対応。
・試料に対するダメージが少なく、非破壊で繰り返し分析が可能。
・環境関係のスクリーニング分析に適している。

■機能
・各種材料に含まれる元素の種類と含有量を迅速に測定する。
・周期律表でC(カーボン)からU(ウラン)までの分析が可能。

■用途例
・未知試料の材質判定分析。
・材料中の不純物分析。
・産業廃棄物のスクリーニング分析
 
■主要スペック

・分析可能元素C(カーボン)~U(ウラン)
・バルク試料サイズΦ35mm以下、10mm以上
・試料形態バルク、粉末、水溶液


■蛍光X線サンプル 



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